X熒光硫測定儀是基于X射線熒光光譜技術(shù)分析的一種測試光譜儀。

X射線熒光光譜儀（X-ray Fluorescence Spectrometer，簡稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法。

其原理是用X光激發(fā)源照射待分析的油樣，樣品中硫元素的內(nèi)層電子被擊出后，造成核外電子的躍遷，在被激發(fā)的電子返回基態(tài)的時候，會放射出硫元素的特征 X 光。檢測器(Detector)接受這些硫元素的特征X光信號，儀器軟件系統(tǒng)將其轉(zhuǎn)為對應(yīng)的測試強度。用標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)樣品建立特征X射線強度與硫含量之間的關(guān)系，也就是標(biāo)定曲線。在建立了硫元素不同含量范圍的標(biāo)定曲線后，再去測試未知樣品，便可快速分析石油及其他液體中的硫含量。

X熒光測硫儀的優(yōu)勢

1.快速，一個樣品通常只要100秒即可得出S硫含量

2.準(zhǔn)確，測試結(jié)果可以達到實驗室級別精度

3.無損。X熒光測硫儀是一種非破壞性分析。對樣品是無損的

4.樣品制備簡單，僅需要將樣品放入5ml專用樣品杯，即可上機測試。

5.使用和維護成本低，不需要消耗惰性氣體

6.操作簡單，上手快速，無需每日重復(fù)標(biāo)定，大大提升測試效率

7.線性動態(tài)范圍寬，可分析從1mg/L到10000mg/L的硫含量

8.不受樣品基體影響，X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系

9.長期穩(wěn)定性和測試精密度高